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IP core library
¡@¡@¡@¡@Design-for-Manufacturing Tools for High-Performance ICs
¡@¡@¡@¡@Comprehensive prognostic solution from die level to system
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¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡@InstaCell
¡@¡@¡@¡@High speed/high resolution ADC/DAC converter
¡@¡@¡@¡@Band Gap Reference (BGR)
¡@¡@¡@¡@OP amp
¡@¡@¡@¡@Design service
¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡@DFM
¡@¡@¡@¡@PDKCheck - Independent Die-Level Process Monitor
¡@¡@¡@¡@¡@¡@-Ridgetop¡¦s PDKChek measures die-level process-induced
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variations, both random and systematic, in MOS transistor
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threshold voltage (VT), resistance, capacitance, and turn
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on/off current.
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¡@¡@¡@YieldMaxx
¡@¡@¡@¡@¡@- Independent Die-Level Fab Process Monitoring Tools
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¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡@nanoDFM
¡@¡@¡@¡@TDDB EPU
¡@¡@¡@¡@¡@ ¡VTime-Dependent Dielectric Breakdown Electronic Prognostics
¡@¡@¡@¡@¡@¡@Unit
¡@¡@¡@¡@NBTI EPU
¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡VNegative Bias Temperature Instability Electronic Prognostic
¡@¡@¡@¡@¡@¡@Unit
¡@¡@¡@¡@Radiation-Hardened Design Services
¡@¡@¡@¡@¡@¡@¡@Prognostic
¡@¡@¡@¡@Design for Condition-Base Maintenance
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